Análise de Domínio: Um Método para Geração Automática do Modelo de Features

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Marianne Batista Diniz da Silva
Isabel Dillmann Nunes

Abstract

The Software Product Line - SPL are families of software products that share characteristics but which allows a variety of electronic devices to use them, even having no compatibility with each other. However, in these projects, one of the major problems identified is the failure of the process requirements. In SPL, the Domain Engineering is responsible for the requirements, and aims to carry out the activities to collect, organize and store past experience in the development of systems or parts of a specific domain system. So if there is a failure in one of these activities will cause a ripple effect on others, jeopardizing the construction of the final product. In this context, this article describes a method for generating the feature model automatically in Software Product Lines that minimizes the problems encountered in the propagation of errors from the Domain Engineering.

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Artigos
Author Biographies

Marianne Batista Diniz da Silva, Universidade Federal de Sergipe

Estudante de Mestrado em Ciências da Computação pela Universidade Federal de Sergipe - UFS e do MBA em Gestão de Projetos pela Faculdade Integrada de Patos - FIP. Bacharela em Sistemas de Informação pela Facisa. Já atuou no Grupo Rio do Peixe como Analista de Negócios e na Secretaria Municipal de Educação de Esperança como Monitora de Informática e Suporte Técnico de TI.

Isabel Dillmann Nunes, Universidade Federal do Rio Grande do Norte

Possui graduação em Ciência da Computação pela Universidade Federal de Pelotas (1998), mestrado em Ciência da Computação pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2001) e doutorado em Ciência da Computação pela Universidade Federal de Campina Grande (2014). Tem experiência na área de Ciência da Computação, atuando principalmente nos seguintes temas: Engenharia de Software e Informática na Educação. Atualmente é professora do Instituto Metrópole Digital da UFRN (Natal - RN).